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利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測(cè)時(shí),分析鐵基材料中Al時(shí),不能使用含硅的磨料對(duì)分析面進(jìn)行打磨處理。
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X熒光的特征能量和強(qiáng)度是X射線熒光光譜定性和定量分析的基礎(chǔ)。
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