A.所設計的產(chǎn)品滿足設計意圖 B.過程失效模式的設計過程中完全忽視設計意圖 C.設計失效模式完全脫離過程失效模式分析 D.所有的潛在失效模式都會包含在內(nèi),包括設計弊端
A.高發(fā)生率 B.發(fā)生率*檢測>50 C.嚴重度高 D.檢測頻率高
A.只有材料改變時 B.是 C.不是 D.只有在風險優(yōu)先指數(shù)高于100時